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深圳市高盛试验设备有限公司
产品名称:固态硬盘老化架
所属分类:老化测试架/手机老化测试架
SSD(固态硬盘)老化测试架主要技术参数: 1)老化测试架外开形尺寸:L1200*W400*H1610,mm; 2)老化测试架共分4层,单层净高为340mm; 3)单层配置9块测试板,总共可配置36块测试板,一次性可老化180PCS SSD; 4)测试板供电电压为DC12V。
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